使用PIV设备提高单次射击灵敏度的双干扰度

D Kaganovich1, A Beresnyak1

  • 1Plasma Physics Division, Naval Research Laboratory, Washington, District of Columbia 20375, USA.

概括

一种新的双干扰测量方法提供了高的单次射击灵敏度,即使在杂的条件下. 为了解决测量中的系统相位错误,开发了一个校正.