有机突触晶体管和印刷电路板用光子刺激进行缺陷检查:使用斜角沉积的新方法

Gyeongho Lee1,2, Yeo Eun Kim3, Hyeonjung Kim4

  • 1Semiconductor Total Solution Center, Korea Institute of Ceramic Engineering and Technology, 3321 Gyeongchung-daero, Icheon, 17303, Republic of Korea.

概括

这项研究介绍了一种新的光子突触晶体管,使用DNTT的斜角沉积,模仿生物突触. 该设备显示了神经形态计算和印刷电路板缺陷检查的潜力.

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