在InGaAs/InP雪崩光二极管中的光载体分布及其对设备性能贡献

Yue Cheng1,2, Rui Xin2,3, Li Yu2,4

  • 1School of Materials and Chemistry, University of Shanghai for Science and Technology, 580 Jun Gong Road, Shanghai 200093, China. xiangli@usst.edu.cn.

Nanoscale
|May 8, 2025
PubMed
概括

扫描电容显微镜揭示了InGaAs/InP雪崩光二极管 (APD) 中的光载体行为. 这种技术可以揭示微观的电和光电性质,这对于优化单光子探测器性能至关重要.