基于SiPM的闪光探测器与光学带通波器的外部光学交叉减少的表征
Seungeun Lee1, Woon-Seng Choong1, Joshua William Cates1
1Applied Nuclear Physics Program, Nuclear Science Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Rd, Berkeley, CA, United States.
概括
光学过器显著降低了光倍增器 (SiPM) 阵列中的噪声,这些阵列用于闪光探测器. 这种技术可将检测到的光学光子噪声降低高达92%,从而实现更高的操作过电压.
科学领域:
- 物理 物理学 物理
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 电气工程 电气工程
背景情况:
- 外部光学交叉声是光探测器与光倍增器 (SiPM) 阵列相结合的主要噪音来源.
- 这种噪声限制了最大的过电压,影响了探测器的性能.
研究的目的:
- 评估使用光学带通波器在闪光器和SiPM阵列之间使用的好处.
- 评估过器在减少光学交叉声和相关噪声方面的有效性.
主要方法:
- 描述了各种SiPM和带通波器配置,包括不同的合接口.
- 使用单元和数组SiPMs与LYSO晶体进行测量降噪和交叉声抑制.
- 在安装过器的情况下,对高过压的SiPM可操作性进行了评估.
主要成果:
- 在4x4 SiPM阵列和LYSO晶体之间合一个光学波器,可将光学光子噪声降低高达92%.
- 单通道测量显示,过器的外部交叉声抑制高达64%.
- 当使用光学波器时,SiPM在显著更高的过压下工作.
结论:
- 光学过是一种高效的方法来减少基于SiPM的闪光探测器的相关噪声.
- 这种技术通过实现更高的过电压和最小化噪声来提高探测器性能.
- 该研究展示了光学带宽过器在先进探测器系统中的实际好处.


