在的介质中通过穆勒矩阵极度度测量进行深度分辨率成像

Xinxian Zhang1, Jiahao Fan1, Jiawei Song2

  • 1Tsinghua University, Tsinghua Shenzhen International Graduate School, Shenzhen, China.

PubMed
概括

穆勒矩阵极度测量可以测量的介质中的组织深度. 这项研究开发了深度敏感的极化特征参数 (DSPFPs),用于准确的,非侵入性的组织深度评估,推进极度测量应用.

相关概念视频