S2L-CM:使,

Hyun-Jic Oh1, Seonghui Min1, Won-Ki Jeong1

  • 1Department of Computer Science and Engineering, College of Informatics, Korea University, 145 Anam-ro, Seongbuk-gu, Seoul, 02841, South Korea.

概括

这项研究介绍了S2L-CM,这是一种使用涂标签进行核细分的新框架. 它有效地产生伪标签,改善深度学习模型培训,而没有完整的基础真相数据.

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