用生物陶密封剂填充的根通道中XP-endo再处理系统诱导的微裂:微计算机断层分析
1Department of Restorative Dental Sciences, College of Dentistry, King Saud University, PO Box 68004, 11527, Riyadh, Saudi Arabia. Salkahtany@ksu.edu.sa.
The Saudi dental journal
|May 21, 2025
概括
使用XP-endo再处理 (XPER) 系统用生物陶密封剂回收根管,比ProTaper通用再处理 (PTUR) 系统造成更多的牙微裂. 大多数微裂都是从现有的微裂中传播出来的,而不是新形成的.
科学领域:
- 牙周内科医院 牙周内科医院 牙周内科医院
- 牙科材料科学 牙科材料科学
背景情况:
- 生物陶 (BC) 密封剂广泛用于根管填充.
- 关于再处理与BC密封器相关的微裂的影响的数据有限.
研究的目的:
- 使用XP-endo再处理 (XPER) 和ProTaper通用再处理 (PTUR) 系统在生物陶密封剂去除过程中比较微裂纹的形成.
- 用微型计算机断层扫描 (micro-CT) 分析再处理对先前存在的微裂和新微裂的影响.
主要方法:
- 40个人类前被BC密封剂和gutta-percha堵塞.
- 牙被随机分配到XPER或PTUR重新处理组.
- 微CT扫描评估了再处理前后的微裂;进行了统计分析.
主要成果:
- 在XP-endo再处理 (XPER) 系统显示显著的45%的微裂增加.
- 在ProTaper通用再处理 (PTUR) 系统中,微裂变的增加仅为15%.
- 大多数观察到的微裂都是从先前存在的微裂中传播出来的,特别是在中间的根三分之一.
结论:
- 与PTUR相比,XPER系统导致微裂纹的增加更大,尽管在统计上并不显著.
- 根管重新处理主要加剧了先前存在的微裂,而不是创建新的.
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