Electron Microscope Tomography and Single-particle Reconstruction
Scanning Electron Microscopy
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Dal-Jae Yun1,2, Junhyeong Park1, Youngkwon Haam3
1Emerging Research Instruments Group, Strategic Technology Research Institute, Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS), 267 Gajeong-ro, Yuseong-gu, Daejeon 34113, Republic of Korea.
本研究引入了一种半监督式学习方法,以提高连续块面扫描电子显微镜 (SBF-SEM) 中的细分精度,以进行详细的3D器官分析,减少手动注释的需求.
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