Leaky Scanning
Electron Microscope Tomography and Single-particle Reconstruction
Imperfections in Crystal Structure: Point, Line and Plane Defects
Imperfections in Crystal Structure: Stoichiometric Point Defects
Imperfections in Crystal Structure: Non-Stoichiometric Defects
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Yuan-Chao Hu1, Hajime Tanaka2,3
1Songshan Lake Materials Laboratory, Dongguan, 523808, China. yuanchao.hu@sslab.org.cn.
研究人员在眼镜中发现了一种"关键核心"粒子缺陷,该缺陷导致低频准局部模式 (QLM). 固定这些缺陷可以降低纳米尺度眼镜中的机械异构性.
科学领域:
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研究的目的:
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主要成果:
结论: