通过导管大动脉植入后的导电障碍:随着时间的推移的演变和与长期结果的关联
Aileen Paula Chua1, Rinchyenkhand Myagmardorj1, Takeru Nabeta1
1Department of Cardiology, Heart Lung Center, Leiden University Medical Center, Leiden, The Netherlands.
通过导管的大动脉植入 (TAVI) 可能导致导电异常 (CA). 在TAVI后需要永久起器 (PPM) 的患者面临更高的长期死亡率和左心室功能受损.
科学领域:
- 心脏病学 心脏病学
- 干预心脏病学 干预心脏病学
- 心脏电生理学 心脏电生理学
背景情况:
- 跨导管大动脉植入 (TAVI) 指示正在扩大.
- 新的导电异常 (CA),如左捆分支阻塞 (LBBB) 或永久起器 (PPM) 植入,是TAVI显著的并发症.
- 关于TAVI CA后的长期结果的数据有限.
研究的目的:
- 为了研究TAVI后的第一年内CA的进展.
- 评估这些CA的长期预后价值.
- 评估CA对左心室功能和全因死亡率的影响.
主要方法:
- 将TAVI患者分类为:在1年内植入PPM,在1年内持续LBBB (永久LBBB),或没有CA.
- 评估全因死亡率作为主要终点.
- 收集了关于基线特征,门类型,左心室喷射率,全球纵向应变和长期存活率的数据.
主要成果:
- 30%的人出现了新的LBBB,17%的人患有持续的LBBB,12%的人在住院期间需要PPM.
- 一年后,PPM和永久LBBB组与没有CA组相比,左心室喷射率和全球纵向应变减少.
- 长期随访 (中位数为4年) 显示,PPM组的全因死亡率较高 (p=0.006).
结论:
- 后TAVI CA在第一年内表现出动态变化.
- 在TAVI后需要PPM的患者表现出较差的长期结果和左心室功能受损.
- 植入PPM和减少全球纵向菌株是TAVI后死亡率的独立预测因素.
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