在MoS2中检测和分类点缺陷扫描道显微镜图像:深度学习方法

Shiru Wu1, Guoyang Chen2,3, Si Shen1

  • 1School of Arts and Sciences, Shanghai Dianji University, Shanghai 200245, China.

PubMed
概括

本研究介绍了一种使用分段任何模型 (SAM) 和卷积神经网络 (CNN) 的深度学习方法,使用扫描道显微镜 (STM) 图像自动识别二硫化 (MoS) 的缺陷.