多模式平面波成像基于超厚接的全截面检查与紧阵列的紧阵列.
1State Key Laboratory of Fluid Power and Mechatronic Systems, School of Mechanical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, 310027, China; Zhejiang Key Laboratory of Advanced Equipment Manufacturing and Measurement Technology, School of Mechanical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, 310027, China.
Ultrasonics
|June 29, 2025
概括
本研究介绍了一种多模式平面波成像 (MM-PWI) 技术,用于高效的超声波非破坏性测试超厚接. 该方法使用单一阵列进行全截面检查,提高效率并减少设备批量.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 机械工程 机械工程
- 非破坏性测试 不破坏性测试
背景情况:
- 厚 (>90毫米) 的传统超声波测试需要多个传感器组和扫描,导致效率低下.
- 现有的方法在超厚材料的全截面覆盖和信号减弱方面扎.
研究的目的:
- 开发一种高效的单扫描方法,用于超厚的全截面超声波非破坏性测试.
- 改善信号噪声比 (SNR) 并克服信号减弱的挑战.
主要方法:
- 实施多模式平面波成像 (MM-PWI) 技术.
- 分离纵向和剪切波跳转模式,用于全面的缺陷重建.
- 应用矢量连贯系数 (VCF) 来增强SNR.
主要成果:
- 通过使用单一,紧的64元素阵列,成功地对120毫米厚的接进行了全截面检查.
- 在一次扫描中,在所有检测到的缺陷中实现了高信号噪声比 (>32 dB).
- 在检查效率和图像质量方面显著改善.
结论:
- MM-PWI技术为检查超厚接提供了一种简化和稳定的方法.
- 这种方法提高了检查效率,并且很容易适用于工业环境.
- 该技术有效地解决了信号减弱和覆盖在厚材料中的挑战.


