ESPI

Wen Wang1,2, Mingzhi Lv2,3, Fang Zhang2,4

  • 1School of Mechanical Engineering, Tiangong University, Tianjin, China.

PloS one
|July 1, 2025
PubMed
概括

这项研究通过分析板上的负载效应,优化了使用电子光斑模式干扰测量 (ESPI) 的缺陷检测. 结果指导选择最佳加载模式和参数,以加强内部缺陷识别.