角膜上皮质厚度测量的可复制性和选能力,用于使用前段光学一致性断层扫描测量角膜

Taro Oshika1, Ayako Sawaki2,3, Tomoya Nishida3

  • 1Department of Ophthalmology, Japanese Red Cross Gifu Hospital, Gifu, Japan.

概括

前段光学连贯断层扫描 (AS-OCT) 提供可复制的角膜上皮质厚度测量. 这些测量可以有效地区分早期角膜和正常角膜,显示出作为诊断查工具的潜力.