使SOI MEMS,

Ya Zhang1, Kazuki Ebata2, Mirai Iimori2

  • 1Institute of Engineering, Tokyo University of Agriculture and Technology, 2-24-16, Koganei-shi, Tokyo, 184-8588, Japan. zhangya@go.tuat.ac.jp.

概括

我们开发了一种基于的微电机系统 (MEMS) 测量仪,用于太赫兹 (THz) 检测. 这种未冷却的设备为高级THz应用提供了快速响应,高灵敏度和CMOS兼容性.

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