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Updated: Jun 17, 2026

Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Published on: July 3, 2021
缺陷SAM通过对特征进行分层调整来增强用于工业缺陷检测的任何细分模型 (SAM). 这种新的方法提高了识别表面缺陷的准确性,即使在具有挑战性的背景下.
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