头骨底部脑膜瘤的Zap-X射线外科手术:长期随访病例报告
Jingmin Bai1, Jinyuan Wang1, Chengcheng Wang1
1Department of Radiation Oncology, The First Medical Center of the Chinese People's Liberation Army (PLA) General Hospital, Beijing, CHN.
Cureus
|July 14, 2025
概括
两名经过ZAP-X立体射线手术治疗的脑膜瘤患者在四年内没有出现新的神经缺陷或严重不良事件. 这项研究为这种放射性手术技术的更广泛的临床采用提供了见解.
科学领域:
- 神经外科 神经外科
- 辐射瘤学 辐射瘤学
背景情况:
- 脑膜瘤是主要的大脑瘤,可以导致显著的神经缺陷.
- 立体辐射手术为脑瘤提供了一种微创治疗选择.
- ZAP-X系统代表了立体射线手术技术的新进展.
研究的目的:
- 评估ZAP-X立体射线手术系统在治疗脑膜瘤患者中的安全性和有效性.
- 为提供治疗ZAP-X治疗脑膜瘤的患者的长期随访数据.
- 为ZAP-X技术的临床应用提供实际参考.
主要方法:
- 对两名经瘤患者的回顾性分析,这些患者接受了ZAP-X立体射线手术.
- 包括临床诊断,治疗程序和长期随访数据 (长达四年).
- 评估神经状态和不良事件使用常用术语标准不良事件 (CTCAE).
主要成果:
- 在随访期间,两位患者都没有出现新的神经缺陷.
- 在这两位患者中都没有观察到CTCAE 2级或以上的不良反应.
- 在这些脑膜瘤病例中,ZAP-X治疗表明了有利的安全性.
结论:
- 显然,ZAP-X立体射线手术是一种安全有效的脑膜瘤治疗方案.
- 长期随访表明神经缺陷或重大不良事件的风险最小.
- 这些发现支持ZAP-X技术在神经瘤学中的更广泛临床应用的潜力.
