MOS Capacitor
Electrostatic Boundary Conditions in Dielectrics
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Tian Liu1, Hu Wang1, Zheng Zhang1
1School of Microelectronics, Fudan University, Shanghai, 200433, China.
研究人员开发了一种使用相变材料 (PCM) 精确控制二维材料电子性能的新方法. 该技术为先进的电子和光电子设备提供稳定,非挥发性调制.
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主要成果:
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