2D

Xiliang Yang1, Dong Hoon Shin2, Kenji Watanabe3

  • 1Department of Precision and Microsystems Engineering, Delft University of Technology, Mekelweg 2, 2628 CD, Delft, The Netherlands.

概括

研究人员使用微球精确地在六角化 (hBN) 中创建晶体缺陷,用于增强的光学探针. 这种方法改善了量子技术和纳米尺度传感的缺陷生成和信号收集.