标准像素测量:一种新且可访问的方法,用于精确的上唇痕测量
Siqi Wei1, Yuan Gao, Yongqian Wang
1Center for Cleft Lip and Palate Treatment, Plastic Surgery Hospital, Chinese Academy of Medical Sciences and Peking Union Medical College, Ba-da-chu, Beijing, China.
The Journal of craniofacial surgery
|July 21, 2025
概括
与传统的追踪相比,标准化像素测量提供了一种更快,更准确的方法来测量上唇痕. 这种精确的技术提高了临床和研究用途的痕评估效率.
科学领域:
- 医学技术 医学技术 医学技术
- 皮肤病学 皮肤病学
- 整形外科手术 整形外科手术
背景情况:
- 精确的上唇痕测量是至关重要的,但具有挑战性.
- 传统的方法,如透明片的追踪是耗时的.
- 需要有效和可靠的痕评估工具.
研究的目的:
- 引入标准化像素计,作为传统痕测量的精确替代方案.
- 评估标准化像素测量与传统追踪方法的性能.
- 在临床和研究环境中提高痕评估的效率和可靠性.
主要方法:
- 这项研究包括50名上唇痕患者.
- 用标准化像素测量和透明薄膜追踪测量痕区域.
- 标准化像素测量涉及使用参考贴纸和软件分析的数字摄影.
- 透明片的追踪涉及手工概述和随后的软件分析.
主要成果:
- 与片追踪相比,标准化像素测量显示出卓越的准确性 (ICC=0.986) 和评分器间的一致性 (ICC=0.998).
- 通过标准化像素测量 (2.45±0.72分钟) 与片追踪 (4.17±1.05分钟,P<0.001) 显著减少了测量时间.
- 该方法保持了高可重复性,表明可靠的痕区域量化.
结论:
- 标准化像素测量比传统的痕测量技术提供了更高的精度和效率.
- 该方法具有高度可靠性,使其适用于临床实践和研究应用.
- 这种技术代表了客观痕评估的进步.
