Amir Dahari1, Ronan Docherty1,2, Steve Kench1

  • 1Dyson School of Design Engineering, Imperial College London, London, SW7 2DB, England.

概括

这项研究引入了一种新方法,可以从单个图像中预测材料的代表性,从而减少数据需求. 它使用双点相关函数来准确地预测相位分数与置信级别.