Julian Schwarz1, Jan Dick1, Susanne Beuer2

  • 1Electron Devices, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, Cauerstraße 6, Erlangen, 91058, Germany.

Micron (Oxford, England : 1993)
|July 24, 2025
PubMed
概括

本研究提出了一种简单的方法来量化背面反射在微光谱测量厚厚的透明基板. 这提高了薄膜特征的准确性,这对于光学过器和光电子设备至关重要.