使

Li Hung Hung1, Uidon Jeong1, Ga-Eun Go1

  • 1Department of Chemistry, Hanyang University, Seoul 04763, Republic of Korea.

概括

研究人员开发了一种用于纳米材料的新型无标签超高分辨率成像方法. 这种技术使用缺陷的内在光发光,使得在没有光标签的情况下进行纳米尺度缺陷检测,用于高级半导体制造.