Jun Sun1, Lei Shi1, Jiehong Cheng1

  • 1School of Electrical and Information Engineering, Jiangsu University, Zhenjiang 212013, China.

概括

这项研究引入了一种非破坏性的高光谱成像方法,用于检测 (Cd) 在中的痕量. 异质二维相关谱学 (H2D-COS) 有效地确定了关键的光谱频段,以准确预测Cd含量.