激光驱动的质子源用于高效的辐射测试
Beatrice D'Orsi1,2, Corrado Altomare3, Alessandro Ampollini4
1INRS, EMT Varennes, 1650 Blvd Lionel-Boulet, Varennes, J3X 1S2, Canada. beatrice.dorsi@enea.it.
Scientific reports
|July 27, 2025
概括
这项研究表明,激光驱动的质子辐射是一种高效的方法,用于在高辐射环境中应力测试电子元件,需要比传统来源更低的剂量和更短的时间.
科学领域:
- 物理 物理学 物理
- 工程 工程师 工程师 工程师
- 材料科学 材料科学 材料科学
背景情况:
- 诸如粒子物理学和太空探索等领域的高辐射环境对电子元件构成风险.
- 这些商用现成 (COTS) 部件的损坏可能会损害设施的可靠性.
研究的目的:
- 研究各种辐射源对COTS电子元件的影响.
- 为了比较辐射环境的不同压力测试方法的效率.
主要方法:
- 电子元件暴露于马射线,激光驱动的质子,常规加速的质子和中子.
- 在各种辐射条件下分析了设备参数.
主要成果:
- 辐射暴露导致了由于诱导缺陷导致的电性能显著降低.
- 即使在相同的剂量水平下,也观察到辐射效应的变化.
- 激光驱动的质子辐射被证明更有效,在明显较低的剂量和更快的速度实现了同等的应力测试.
结论:
- 激光驱动的质子辐射提供了一种更有效,更快速的方法,用于高辐射环境的电子元件的合格.
- 了解辐射引起的缺陷对于确保电子系统在恶劣条件下的可靠性至关重要.


