Johannes Voß1, Lukas Müller1, Hyoungwon Park2

  • 1Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Organic Materials and Devices, Institute of Polymer Materials, Department of Materials Science, Interdisciplinary Center for Nanostructured Films (IZNF), Cauerstr. 3, Erlangen 91058, Germany.

概括

在纳米颗粒上分析混合自组装单层 (SAM),这项研究表明富里埃变换红外光谱法 (FTIR-ATR) 可以量化表面成分. 连接体接种行为决定了表面比率,在混合物中占主导地位的是更高密度的连接体.

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