用单个X射线投射的低Z和单质材料组件的任意厚度配置测量学
Wenjie Hao1, Feixiang Wang2, Fucheng Yu2
1Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, People's Republic of China.
Journal of synchrotron radiation
|July 31, 2025
概括
X射线相位对比成像使低Z材料的精确,非破坏性的厚度计量学成为可能. 这种先进的技术克服了X射线微型计算机断层扫描 (micro-CT) 的局限性,实现高效,高分辨率的3D测量.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 计量学 计量学 计量学
- 光学是什么?光学是什么?
背景情况:
- 精确的厚度测量对于用于导热,植入物,微流体和光学中的低Z材料至关重要.
- 射线微型计算机断层扫描 (micro-CT) 提供非破坏性的3D成像,但速度缓慢,并与层状样本作斗争.
研究的目的:
- 开发一种更快,更通用的方法来测量具有任意配置的低Z材料的厚度.
- 克服微CT的局限性,实现高效和动态的厚度测量.
主要方法:
- 利用X射线相位对比成像,从单个投影中检索X射线相位变化.
- 开发了一个开放的设备设计,用于现场,非接触,高精度测量.
主要成果:
- 在1.33毫米视野内的圆柱状纤维的平均绝对误差为0.68微米.
- 在磨损的纤维和微镜头阵列上证明了高效的测量和损坏评估.
- 从单个投影中获得3D配置文件,用于详细的错误分析.
结论:
- X射线相位对比成像为厚度计量学提供了高精度,高效和多用途的微型CT替代方案.
- 该方法的功能包括现场,非接触,大视野和透测量.
- 潜在的应用包括动态厚度测量和装载装置的实时监控.
更多相关视频
11:47Characterization of Surface Modifications by White Light Interferometry: Applications in Ion Sputtering, Laser Ablation, and Tribology Experiments
Published on: February 27, 2013
15.7K
09:12Production of Single Tracks of Ti-6Al-4V by Directed Energy Deposition to Determine the Layer Thickness for Multilayer Deposition
Published on: March 13, 2018
9.4K
