高剂量的X射线辐射通过CIRP/TREM-1轴在小鼠中性粒细胞中诱导NETosis
Satoshi Yamaga1, Atsushi Murao1, Monowar Aziz1
1Center for Immunology and Inflammation, The Feinstein Institutes for Medical Research, Manhasset, NY 11030, USA.
International journal of molecular medicine
|August 1, 2025
概括
高剂量的电离辐射会触发中性细胞外细胞陷 (NET) 的形成,这种过程由细胞外冷诱导性RNA结合蛋白 (eCIRP) 和在骨髓细胞-1 (TREM-1) 途径上表达的触发受体介导,可能导致中性细胞衰竭.
科学领域:
- 辐射生物学 辐射生物学
- 免疫学 免疫学 免疫学
- 血液学 血液学 血液学
背景情况:
- 高剂量的电离辐射会导致造血功能障碍,特别是中性质衰竭.
- 中性细胞外细胞陷 (NETs) 可能会加剧中性细胞衰竭,感染和辐射后的炎症.
- 该eCIRP/TREM-1轴涉及到NET的形成.
研究的目的:
- 为了研究高剂量电离辐射暴露后的NET形成.
- 探索eCIRP/TREM-1轴在辐射引起的NETosis中的作用.
主要方法:
- 用不同的剂量 (5-15 Gy) 对小鼠骨髓衍生中性粒细胞 (BMDNs) 和C57BL/6小鼠 (WT,CIRP-/-,TREM-1-/-) 进行辐射.
- 通过流细胞计和光显微镜分析NET形成.
- 评估TREM-1表达,PAD4蛋白和mRNA水平以及eCIRP治疗效果.
主要成果:
- 照射剂量依赖于体外和体内增加的NET形成.
- 在照射后,TREM-1表达和PAD4 (蛋白质和mRNA) 水平显著上调.
- eCIRP增强了NET形成,而CIRP或TREM-1淘汰赛减弱了辐射诱导的NETosis.
结论:
- 高剂量的电离辐射通过eCIRP/TREM-1通路诱导NET的形成.
- 这一途径可能会导致辐射后观察到的早期中性缺血.
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