aEEG评估对短期结果的预测 缺氧缺血性脑病的预后:一个11年的经验

科学领域:

• 新生儿医学 新生儿医学
• 神经学 神经学
• 关键的护理关键的护理

背景情况:

• 低毒性缺血性脑病变 (HIE) 是新生儿死亡率和发病率的主要原因之一.
• 治疗性低温 (TH) 是对HIE的唯一确定的神经保护性治疗方法.

研究的目的:

• 评估治疗新生儿的短期结局 用TH治疗HIE.
• 确定影响HIE患者接受TH的死亡率的因素.

主要方法:

• 对人口,临床,实验室和EEG数据的回顾性分析.
• 包括101名新生儿被诊断患有第二阶段或第三阶段HIE (修改的Sarnat分期).

主要成果:

• 在第二阶段的HIE中,死亡率为5.9%,在第三阶段的HIE中为26%.
• 认定急性损伤是导致死亡率的最重要因素.
• 异常的第6小时EEG电压模式表明预后不佳,15名患者显示严重异常模式.

结论:

• 患有III期HIE的新生儿的死亡率更高.
• 急性损伤显著影响HIE患者的死亡率.
• 六小时EEG监测对于预测HIE预后非常有价值.