X线

Fabian Gasser1, Sanjay John1, Jorid Smets2

  • 1Institute of Solid State Physics Graz University of Technology Petersgasse 16 8010Graz Austria.

Journal of applied crystallography
|August 6, 2025
PubMed
概括

这项研究引入了一种新的算法,用于对牧场发生率X射线衍射 (GIXD) 数据的定量分析. 该方法准确地确定了薄膜特性,如相位组成和晶体的方向分布.