,MoSe2

Hwi Je Woo1, Sung-Gyu Lee2, Hansung Kim1

  • 1Material Property Metrology Group, Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS), Daejeon 34113, Republic of Korea.

PubMed
概括

研究人员开发了一种新技术,可以在纳米尺度上映出二化物 (MoSe2) 的缺陷. 这种方法揭示了应变和缺陷如何影响材料的光电子特性,用于先进的应用.