,albedo

Demet Yılmaz1, Abdul Fatah Pathman2, Sedanur Kalecik1

  • 1Department of Physics, Faculty of Science, Atatürk University, Erzurum, 25040, Turkey.

概括

马射线的白度参数可以非破坏性地测量雕刻的基片的表面粗度. 这种基于辐射的技术为材料表征的接触方法提供了一个有希望的替代方案.