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Bin Chan Joo1, Dong Hee Park1, Kyu Ri Choi1

  • 1Department of Physics, Chungbuk National University, Cheongju, Chungbuk, 28644, Republic of Korea.

概括

一种新的极化增强单分子定位显微镜 (P-SMLM) 技术显著提高了纳米尺度的精度. 这种方法增强了超分辨率显微镜,特别是在低信号对噪声条件下.