Electron Microscope Tomography and Single-particle Reconstruction
Transmission Electron Microscopy
Scanning Electron Microscopy
Preparation of Samples for Electron Microscopy
Overview of Electron Microscopy
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Louis-Marie Lebas1, Karine Masenelli-Varlot1, Victor Trillaud1
1MATEIS, UMR5510, Univ Lyon, INSA Lyon, UCBL, CNRS, Villeurbanne Cedex, 69621, France.
一个新的协议允许在环境条件下对光束敏感样品进行纳米级成像. 这种方法提供了精确的控制,自动数据采集和更容易的样本准备,用于材料科学和生物学应用.
科学领域:
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主要成果:
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