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Updated: Sep 11, 2025
Subsurface Defect Localization by Structured Heating Using Laser Projected Photothermal Thermography
Published on: May 15, 2017
Yan Zhao, Yunlong Zhi, Hui Zhao+3
一个新的双光束光热系统使用热透镜效应和自混合干扰 (SMI) 检测晶体紫色 (CV) 痕迹. 这种无标签的方法在各种研究领域实现了高灵敏度的CV检测.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
High-resolution Thermal Micro-imaging Using Europium Chelate Luminescent Coatings
Published on: April 16, 2017
Measurement of Coherence Decay in GaMnAs Using Femtosecond Four-wave Mixing
Published on: December 3, 2013
结论: