TS-FBPCL

Optics express
|August 13, 2025
PubMed
概括

这项研究引入了一种两步加权过反射算法,用于从截断的X射线计算层图数据中重建图像. 该方法有效地减少了薄板零件分析中的工件,提高了非破坏性测试质量.