概括
孔环降光谱 (CRD) 精确测量薄膜偏光束分割器 (PBS). 这种先进的技术准确地确定了高达10^6:1的极化灭绝比 (PERs),超过了传统方法.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 材料科学 材料科学 材料科学
背景情况:
- 极化束分裂器 (PBS) 是操纵光极化的关键光学组件.
- 对于先进的光学系统来说,准确地描述PBS极化特性,特别是高灭绝率,是必不可少的.
研究的目的:
- 开发和验证一种高精度的方法来测量薄膜PBS的极化特性.
- 建立一个双通道腔环向下 (CRD) 配置,用于精确的透射率和反射率测量.
主要方法:
- 采用双通道腔环下降 (CRD) 光谱技术,使用s-和p-极化光.
- 测量了s-和p-极化透射率 (Ts, Tp) 和反射率 (Rs, Rp) 的值.
- 从测量的传导率值计算出极化灭绝比 (PER = Tp/Ts).
主要成果:
- 在测量Tp (~99.0%+) 中实现了高精度,误差为±0.010.02%.
- 测量 Ts < 1 ppm,不确定性 < ± 0.01 ppm 或 ~ ± 1.0%.
- 确定高达10^6:1的PER,误差为±1.02.0%,与高PER值的光谱相比,显示出更高的精度.
结论:
- 双通道CRD技术提供了非常精确的薄膜PBS极化特征测量.
- CRD光谱是一种强大的工具,用于表征高性能PBS,在广泛的PER范围内 (100:1到>10^9:1) 预期的不确定性为~1.0%.
- 这种方法在测量高PER值时比光谱光度学具有显著的优势.
