:,FIB-SEM

Optics express
|August 13, 2025
PubMed
概括

我们开发了一种改进的变化方法,以消除成像中的条纹文物,提高图像质量和保存结构. 这种方法广泛适用于光片光显微镜,电子显微镜和遥感.