使,线

Optics express
|August 13, 2025
PubMed
概括

本研究引入了一种用于连续垂直扫描结构化照明显微镜 (CVS-SIM) 的新方法,以改进3D表面测量. 这种新的方法在噪音条件下提高了峰值定位精度,提高了测量精度.