220 nm SOIInP线

Optics express
|August 13, 2025
PubMed
概括

这项研究引入了一种新的方法,用于防止与光子学集成的III-V激光器的缺陷. 这一突破为先进的激光应用提供了高效,无表面缺陷的化 (InP) 膜.

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