Jun Kikkawa1, Chikara Shinei1, Jun Chen1

  • 1National Institute for Materials Science, 1-1 Namiki, Tsukuba 305-0044, Japan.

Nano letters
|August 20, 2025
PubMed
概括

电子能量损失光谱 (EELS) 精确地绘制了六角化 (h-BN) 中的空缺陷. 这种技术可以区分负电荷 (VB-) 和中性 (VB0) 状态,这对于推进量子传感技术至关重要.