在热处理的Ni/Si双层中,低能碳离子辐射诱导的相位演变
Khushboo Shah1, Ratnesh Pandey1, Devarani Devi2
1Department of Physics, School of Advanced Engineering, UPES Dehradun 248001 India santosh.dubey@ddn.upes.ac.in.
RSC advances
|August 27, 2025
概括
低能碳离子辐射显著改变了热化双层中的化相. 这项研究调查了先进材料应用的辐射下相位演变和稳定性.
科学领域:
- 材料科学
- 表面科学
- 离子束的修改
背景情况:
- - (Ni/Si) 双层对于微电子互连和接触至关重要.
- 了解化阶段形成和稳定性是设备可靠性的关键.
- 离子辐射对薄膜的影响需要详细研究.
研究的目的:
- 研究低能碳离子辐射对热化Ni/Si双层的影响.
- 在辐射下分析化相的形成,演化和稳定性.
- 了解碳离子辐射引起的结构变化.
主要方法:
- 通过磁喷射制造Ni/Si双层.
- 在500°C的温度下进行热,以核化化相.
- 在120 keV的碳离子辐射中,流动度为3 × 10^15和1 × 10^16离子/cm2.
- 使用放牧发射X射线衍射 (GIXRD),传输电子显微镜 (TEM) 和拉瑟福反射光谱 (RBS) 的表征.
主要成果:
- 碳离子辐射在经过热和未经热的Ni/Si样本中引起了显著的结构变化.
- TEM分析证实了辐射造成的结构变化.
- 研究了特定的化阶段及其在辐射下的演变.
结论:
- 低能碳离子辐射是修改化相的一种可行的方法.
- 辐射会影响化薄膜的稳定性和结构.
- 进一步的研究可以通过受控的离子辐射来探索量身定制的材料特性.


