用常见光学方法直接和间接测量液体薄膜厚度
Siyu Zhao1,2,3, Jia Yi Jin1,2, Pengfei Han2
1Chongqing University-National Field Scientific Observation and Research Station for Energy Equipment Safety in Xuefeng Mountain, Hunan Province, China.
The Review of scientific instruments
|August 27, 2025
概括
精确的液膜厚度测量对于优化工业流程至关重要. 本综述涵盖了光学,非侵入性方法,详细介绍了它们的原理,优点和缺点,以进行有效的液体膜分析.
科学领域:
- 流体动力学
- 热量和质量转移
- 光学测量技术
背景情况:
- 液体薄膜在自然界和工业中普遍存在,具有高热量和质量转移效率.
- 精确测量液膜厚度对于工艺设计和优化至关重要.
- 非侵入性的光学方法可以在不干扰流量的情况下测量薄膜厚度.
研究的目的:
- 审查和分类测量液体薄膜厚度的非侵入性光学方法.
- 讨论每种方法的原则,优势和局限性.
- 为选择合适的测量技术提供见解.
主要方法:
- 直接测量技术:总内部反射,激光焦点移位计,激光干扰计.
- 间接测量技术:激光诱导光,拉曼散射,可调节二极管激光吸收光谱.
- 所有的方法都是光学和非侵入性的.
主要成果:
- 每种方法都为测量液体薄膜厚度提供了独特的功能.
- 直接方法提供了直接的厚度读数.
- 间接方法可以提供关于薄膜组成或特性的额外信息.
结论:
- 非侵入性的光学方法对于描述液体薄膜至关重要.
- 了解每种技术的原理和局限性是成功应用的关键.
- 这些方法的持续发展将提高工业过程的效率.
