术后冠内漂白对复合牙接口的微拉伸键强度的影响
Gizem Ayan1, Tuğba Misilli1, Mehmet Buldur1
1Department of Restorative Dentistry, Faculty of Dentistry, Çanakkale Onsekiz Mart University.
Dental materials journal
|August 27, 2025
概括
术后使用过氧化碳 (CP) 或过氧化 (HP) 的漂白显著降低了复合物恢复键的强度,特别是在自蚀刻方案中. 在所有组中观察到纳米泄漏,这表明潜在的长期担忧.
科学领域:
- 牙科材料科学
- 恢复性牙科
- 生物材料
背景情况:
- 牙漂白是常见的, 但它对复合修复的寿命的影响令人担忧.
- 了解漂白剂对粘合界面的影响对于临床成功至关重要.
研究的目的:
- 评估手术后碳胺过氧化物 (CP) 和过氧化 (HP) 漂白对复合材料微拉伸键强度 (μTBS) 和纳米泄漏的影响.
- 为了比较总蚀刻和自蚀刻粘合剂协议之间的结果.
主要方法:
- 60个切口用多模式粘合剂 (全切口/自切口) 和树脂复合材料进行了修复.
- 样本被分为五组:对照组,CP×2,CP×5,HP×2,HP×5.
- 进行了μTBS测试,故障模式分析和扫描电子显微镜 (SEM) 对纳米泄漏的评估.
主要成果:
- 与对照组相比,碳胺过氧化物 (CP×5) 和过氧化 (HP×5) 漂白显著减少了μTBS.
- 自动蚀刻方案始终产生较低的μTBS值比全蚀刻方案,不论漂白.
- 粘合器故障是最常见的故障模式,故障模式和漂白方法之间有显著的关系.
结论:
- 术后使用CP和HP的漂白,尤其是在较高度或较长时间 (CP×5,HP×5) 时,会对复合材料的结合强度产生负面影响.
- 与全蚀刻方案相比,自蚀刻粘合剂方案在漂白后更容易受到粘合剂降解的影响.
- 纳米泄漏不论是否经过漂白处理都会发生,这凸显了适当的粘合剂应用和修复维护的重要性.
