通过无标签光寿命显微镜检测纸张的老化
Francesca Di Turo1, Aldo Moscardini2, Pasqualantonio Pingue2
1NEST Laboratory - Scuola Normale Superiore, Piazza San Silvestro 12, Pisa, Italy. francesca.dituro@sns.it.
Scientific reports
|August 27, 2025
概括
我们使用光终身成像显微镜 (FLIM) 开发了一种非侵入性的光学方法来监测纸张的氧化. 这种技术能够准确地检测纸张的退化, 这对于保护文化遗产材料至关重要.
科学领域:
- 分析化学
- 材料科学
- 遗产科学
背景情况:
- 纸张老化是一个复杂的,不可逆转的过程,影响着各种材料.
- 目前分析纸张损坏的技术在敏感度,分辨率和适用于历史文物方面的限制.
- 对于分析文化遗产等敏感材料而言,非侵入性方法至关重要.
研究的目的:
- 提出一种全新的,全光学,非侵入性的纸张氧化监测方法.
- 证明光终身成像显微镜 (FLIM) 在评估纸张降解方面的实用性.
- 为敏感材料建立新的诊断方法.
主要方法:
- 使用无标签的光终身成像显微镜 (FLIM).
- 测量纸张样本的内在光寿命变化.
- 与富里埃变换红外光谱 (FTIR) 衰老指标相关联的FLIM数据.
- 在受控氧化下对现代和历史纸张样本进行验证.
主要成果:
- 纸张的内在光寿命明显随着氧化而变化.
- 在光寿命转移和纸张老化的FTIR指标之间观察到强烈的相关性.
- 在各种纸张样本上成功验证了非侵入性FLIM方法.
结论:
- 提出的FLIM方法提供了一种敏感的,非侵入性的方法来监测纸张的氧化.
- 这种技术为评估纸质材料的退化提供了有价值的工具,特别是在遗产科学中.
- 代表着对材料保存的新诊断方法的重大进展.


