对高温WBG电力电子应用的新型接材料的审查

Na Wu1, Yuxiang Li1

  • 1School of Mechanical and Automotive Engineering, Qingdao University of Technology, Qingdao 266520, China.

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概括

第三代宽带隙 (WBG) 半导体包装面临挑战. 新的介质层和纳米粒子方法显示出高温关节的前景,克服了长时间的结合时间和空隙等局限性.