一个基于长角侧孔光纤的光谱探测的折射率传感器
Rafał A Kosturek1, Michał Dudek1, Leszek R Jaroszewicz1
1Institute of Applied Physics, Military University of Technology, 2 gen. Sylwestra Kaliskiego St., 00-908 Warsaw, Poland.
Sensors (Basel, Switzerland)
|August 28, 2025
概括
一个新的光纤传感器准确地测量外部折射率 (RI) 的变化. 这种长状侧孔光纤 (S-H OF) 为RI传感应用提供了更简单,更有效的方法.
科学领域:
- 光子学和传感技术
- 光纤传感器
- 折射率的测量
背景情况:
- 折射率 (RI) 传感在各种科学和工业领域至关重要.
- 现有的RI传感方法往往涉及复杂的配置,如干扰度或等离子体传感器.
- 需要更简单但更灵敏的RI传感技术.
研究的目的:
- 开发和描述一个外部折射率 (RI) 传感器.
- 为了研究长形侧孔光纤 (S-H OF) 的光谱传输特性.
- 评估S-H OF传感器对外部RI变化的灵敏度.
主要方法:
- 一个长的侧孔光纤传感器 (S-H OF) 的制造.
- 将S-H OF与标准单模纤维 (SMF) 合并.
- 使用超连续源和光谱分析仪 (OSA) 进行光谱分析.
- 使用不同折射率的浸泡液体进行测试 (1.32-1.42).
- 不同波长范围 (600-1800 nm) 的功率损耗测量.
主要成果:
- 传感器表现出对外部RI变化的敏感性.
- 在近红外区域获得的最高灵敏度为622±11nm/RIU.
- S-H OF的光谱特征受到周围RI的显著影响.
结论:
- 长形的S-H OF适用于基于光谱探测的RI传感.
- 开发的传感器为复杂的现有 RI 传感技术提供了一个有前途且更简单的替代方案.
- 这项技术有潜力用于需要精确的RI监控的各种应用.
