使用快速THz飞行时间成像验证假冒电子产品
Hyeonseung Ryu1, Byung Hee Son1, Jihwan Kim1
1Department of Physics and Department of Energy Systems Research, Ajou University, Suwon 16499, Republic of Korea.
Sensors (Basel, Switzerland)
|August 28, 2025
概括
这项研究引入了快速太赫兹飞行时间 (THz ToF) 成像,以检测假冒电子产品. 这项技术可以在不破坏的情况下揭示内部结构,有效地识别假冒设备和滥用集成电路芯片.
科学领域:
- 应用物理
- 电气工程
- 材料科学
背景情况:
- 假冒电子产品在网上市场的扩散给消费者和行业带来了重大风险.
- 目前的认证方法往往难以对复杂的电子设备进行非破坏性分析.
研究的目的:
- 开发和演示用于识别伪造的便携式电子设备的快速非破坏性成像技术.
- 评估太赫兹飞行时间 (THz ToF) 成像在检测内部结构异常和错误使用组件方面的能力.
主要方法:
- 使用快速的太赫兹 (THz) 飞行时间 (ToF) 成像来进行便携式电子设备的反射成像.
- 实现1mm的空间分辨率和超过5mm的深度范围进行非破坏性分析.
- 将该技术应用于塑料外的设备, 包括固态设备和耳机.
主要成果:
- 通过检测与真实设备相比内部结构的显著差异,成功识别了假冒的固体设备.
- 证明使用任意形状的小型便携式设备的认证能力.
- 突出了该技术在检测集成电路 (IC) 芯片的不适当使用方面的有效性,例如USB集线器中的控制器芯片.
结论:
- THz ToF成像是一种强大的,非破坏性的工具,用于便携式和可穿戴电子设备的快速认证.
- 这种技术为打击假冒电子产品和确保组件完整性提供了多方面的方法.
- 这种方法为在线产品认证和识别各种设备中IC芯片的滥用提供了有效的解决方案.
