线

Optics letters
|August 29, 2025
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概括

我们开发了一种新的两阶段方法, 结合Z扫描和短暂吸收光谱, 详细描述半导体和吸收镜 (SESAM). 这种方法精确地测量非线性光学参数和载体动力学,用于先进的材料分析.