无线电频率传感器用于复合材料的非破坏性评估
Kamila Samolej1, Maciej Ślot2, Adam Busiakiewicz1
1Department of Solid State Physics, Faculty of Physics and Applied Informatics, University of Łódź, Łódź, Poland.
Scientific reports
|August 29, 2025
概括
一个新的双探针射频传感器 (RFlect) 提供了对先进复合材料的灵敏,经济高效的非破坏性测试. 这种微波光谱技术可靠地检测表面和地下缺陷,改善材料检查.
科学领域:
- 材料科学
- 电气工程
- 非破坏性测试
背景情况:
- 先进的复合材料需要可靠的非破坏性测试方法.
- 传统的NDT技术往往无法检测复合材料中的微妙缺陷.
- 微波光谱显示出对敏感材料属性评估的前景.
研究的目的:
- 开发和评估一种新的双探头射频传感器 (RFlect) 用于先进复合材料的无核测试.
- 与单探头系统相比,提高缺陷检测的灵敏度和缩短扫描时间.
- 展示一个具有成本效益的微波光谱系统用于材料表征.
主要方法:
- 使用双探头开放式同轴传感器,运行在2.4GHz.
- 将传感器与化沉积模型3D打印机集成,
- 采用具有信号发生器,定向合器和射频功率测量的经济有效系统.
- 分析导电率和介电常数的变化以确定缺陷.
主要成果:
- 双探头RFlect传感器显示了表面和地下缺陷的增强检测.
- 他们成功地发现了可见和隐藏的小空洞和不均.
- 与以前的单探头设计相比,可以减少扫描时间.
- 在没有昂贵的载体网络分析仪的情况下, 该系统有效过噪音.
结论:
- 双探针微波光谱是一种具有成本效益和高性能的NDT解决方案.
- 该RFlect传感器适用于检测微妙的材料性能变化和缺陷.
- 未来的工作包括适应生物组织等高损耗材料的传感器.


